弗勞恩霍夫超聲波測(cè)厚儀P3123信息

弗勞恩霍夫超聲波測(cè)厚儀P3123信息

弗勞恩霍夫超聲波測(cè)厚儀描述：

堅(jiān)固耐用的工業(yè)用筆記本，

4個(gè)UT通道，

多參數(shù)傳感器技術(shù)，

測(cè)試頻率：5-30 MHz，

電池和電源操作，

操作系統(tǒng)：Windows 7，Windows 10，

模塊化硬件建立，

模塊化軟件建立：

規(guī)劃，測(cè)試和數(shù)據(jù)導(dǎo)出。 數(shù)據(jù)庫(kù)的使用是規(guī)劃過(guò)程中的重要一步。在報(bào)告生成器的幫助下，

附加類型的設(shè)備：

固定式試驗(yàn)機(jī); 桌面版可擴(kuò)展的硬件。

SHD技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

作為諸如光學(xué)分析或硬度深度分析的破壞性技術(shù)的替代方案，通過(guò)超聲波時(shí)間測(cè)量來(lái)確定表面硬化深度（SHD）。

這種非破壞性的技術(shù)在硬化層和基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)之間的過(guò)渡區(qū)域中使用反向散射信號(hào)，這表示相應(yīng)的硬化深度。

使用表面硬化層和基體的微觀結(jié)構(gòu)之間的機(jī)械結(jié)構(gòu)差異，結(jié)合優(yōu)化后向散射的超聲波，客戶可以獲得可靠和可重復(fù)的SHD測(cè)量。