菲希爾X射線熒光測厚儀xdlm237信息

菲希爾臺(tái)式測厚儀，X射線熒光測量法，非接觸式測厚儀。X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237 是一款性能優(yōu)良、應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器圍繞極薄鍍層測量與微量成分分析進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)，在質(zhì)量控制、質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控等環(huán)節(jié)中具備可靠的檢測能力，是工業(yè)檢測領(lǐng)域性能出色的專業(yè)測量設(shè)備。

應(yīng)用領(lǐng)域

• 電鍍零部件批量檢測：適用于大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件，能夠高效、準(zhǔn)確地完成鍍層厚度的批量檢測，有助于保障產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性。

• 微小區(qū)域薄鍍層測量：依托先進(jìn)技術(shù)，可對(duì)微小區(qū)域上的薄鍍層實(shí)現(xiàn)較為精準(zhǔn)的測量，滿足精密制造行業(yè)對(duì)微觀檢測的嚴(yán)格要求。

• 功能性鍍層檢測：在電子工業(yè)與半導(dǎo)體工業(yè)中，能夠?qū)Ω黝惞δ苄藻儗舆M(jìn)行專業(yè)測量分析，為端電子產(chǎn)品的品質(zhì)把控提供有效數(shù)據(jù)支撐。

• 全自動(dòng)測量應(yīng)用：支持全自動(dòng)測量模式，尤其適用于印刷線路板等復(fù)雜工件的批量檢測，可明顯提升檢測效率與自動(dòng)化程度。




該儀器配備可電動(dòng)調(diào)整的多個(gè)準(zhǔn)直器和基本濾片，能夠依據(jù)不同測量需求，快速營造適宜的激發(fā)條件。同時(shí)，比例接收器具備較高的計(jì)數(shù)率特性，為測量結(jié)果的高精度輸出提供有力保障。




FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237 系統(tǒng)以其良好的精確性和穩(wěn)定的長期性能表現(xiàn)，可降低儀器校準(zhǔn)的頻率，為用戶節(jié)省不少時(shí)間和精力。此外，基于基本參數(shù)法的設(shè)計(jì)，使其在面對(duì)鍍層系統(tǒng)、固體及液體等各類樣品時(shí)，無需標(biāo)準(zhǔn)片也能完成較為準(zhǔn)確的分析與測量，有效拓展了儀器的應(yīng)用范圍與操作靈活性。