FISCHER XDL237 X射線熒光測厚儀信息

德國菲希爾（FISCHER）XDL237 X射線熒光測厚儀是一款高精度、非破壞性的鍍層厚度測量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、五金、電鍍及金屬加工等行業(yè)。該儀器采用先進的X射線熒光（XRF）技術(shù)，可快速、準確地測量單層或多層金屬鍍層的厚度，如金、銀、錫、鎳、鉻、鋅、銅等，適用于各種基材，包括鐵、銅、鋁、塑料等。

XDL237配備高分辨率硅漂移探測器（SDD），具有優(yōu)異的能量分辨率和測量靈敏度，即使對極薄鍍層（可達納米級）也能實現(xiàn)穩(wěn)定可靠的檢測。其操作界面簡潔直觀，支持多語言顯示，用戶可通過觸摸屏輕松完成參數(shù)設(shè)置與數(shù)據(jù)分析。儀器內(nèi)置多種標準測量程序，并支持自定義測量曲線，滿足不同應(yīng)用場景的個性化需求。

此外，XDL237符合多項國際標準（如ISO 3497、ASTM B568等），具備良好的重復(fù)性和長期穩(wěn)定性，確保測量結(jié)果可追溯性。設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用，適合實驗室及生產(chǎn)線現(xiàn)場使用。配合菲希爾專業(yè)的測量軟件，還可實現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲、統(tǒng)計分析與報告生成，極大提升工作效率。

作為菲希爾XDL系列中的高性能型號，XDL237憑借其精準、高效與易用性，成為鍍層質(zhì)量控制和工藝優(yōu)化的理想選擇。