貴金屬鍍層厚度測(cè)量

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型儀器上發(fā)展而來(lái)的。與上一代相類似，它尤其適合無(wú)損測(cè)量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了 Fischer 基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量?？蓽y(cè)量的元素范圍從氯 (17)到鈾(92)

XDL型X射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器

XDL系列儀器特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控

Fischer X射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測(cè)量薄鍍層，例如裝飾鉻

測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>

貴金屬鍍層厚度測(cè)量